摘 要：半導(dǎo)體發(fā)光二極管（LED）是新型的發(fā)光體，電光效率高、體積小、壽命長、電壓低、節(jié)能和環(huán)保，是下一代理想的照明器件。LED光電測試是檢驗LED光電性能的重要而且*的手段，相應(yīng)的測試結(jié)果是評價和反映當(dāng)前我國LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的依據(jù)。制定LED光電測試方法的標(biāo)準(zhǔn)是統(tǒng)一衡量LED產(chǎn)品光電性能的重要途徑，是使測試結(jié)果真實反映我國LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的前提。本文結(jié)合的LED測試方法的國家標(biāo)準(zhǔn)，介紹了LED的光電性能測試的幾個主要方面。   

關(guān)鍵詞：半導(dǎo)體發(fā)光二極管 測試方法 國家標(biāo)準(zhǔn)  

一、引言  
     
半導(dǎo)體發(fā)光二極管（LED）已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于指示燈、信號燈、儀表顯示、手機背光源、車載光源等場合，尤其是白光LED技術(shù)的發(fā)展，LED在照明領(lǐng)域的應(yīng)用也越來越廣泛。但是過去對于LED的測試沒有較全面的國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，在生產(chǎn)實踐中只能以相對參數(shù)為依據(jù)，不同的廠家、用戶、研究機構(gòu)對此爭議很大，導(dǎo)致國內(nèi)LED產(chǎn)業(yè)的發(fā)展受到嚴(yán)重影響。因此，半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)運而生。

二、LED測試方法 

                                        圖4 LED光強測試中的問題     

  如圖4所示，點光源光強在空間各方向均勻分布，在不同距離處用不同接收孔徑的探測器接收得到的測試結(jié)果都不會改變，但是LED由于其光強分布的不一致使得測試結(jié)果隨測試距離和探測器孔徑變化。因此，CIE-127提出了兩種推薦測試條件使得各個LED在同一條件下進行光強測試與評價，目前CIE-127條件已經(jīng)被各LED制造商和檢測機構(gòu)引用。  
         

      對于LED環(huán)境特性的試驗往往采用模擬LED在應(yīng)用中遇到的各類自然侵襲，一般有：高低溫沖擊試驗、濕度循環(huán)試驗、潮濕試驗、鹽霧試驗、沙塵試驗、輻照試驗、振動和沖擊試驗、跌落試驗、離心加速度試驗等。

三、國家標(biāo)準(zhǔn)的制定   
     
總結(jié)以上測試方法，半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)對LED電特性、光學(xué)特性、熱學(xué)特性、靜電特性及壽命測試都作了相應(yīng)的規(guī)定。  
     
對于電特性測試，標(biāo)準(zhǔn)分別規(guī)定了LED正向電壓、反向電壓、反向電流的測試框圖；對于光通量測試，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定采用2π立體角測試結(jié)構(gòu)；對于光強測試，標(biāo)準(zhǔn)引用了CIE-127的推薦條件；此外，對光譜測試、熱學(xué)特性測試、靜電放電敏感度測試、壽命測試等都作了明確的規(guī)定。

四、結(jié)論  
     
國家標(biāo)準(zhǔn)的制定總結(jié)了現(xiàn)有LED的測試方法，將其中的科學(xué)適用的方法升級為標(biāo)準(zhǔn)測試方法，很好地消除了各界在LED測試領(lǐng)域存在的分歧，也使測試結(jié)果更加真實地反映我國LED產(chǎn)業(yè)的整體水平。但是鑒于LED技術(shù)還在處于不斷地發(fā)展之中，國家標(biāo)準(zhǔn)的制定并不是一勞永逸的，應(yīng)當(dāng)時刻將zui合適的測試技術(shù)引入標(biāo)準(zhǔn)之中。