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廣電計量檢測集團股份有限公司

便攜式現(xiàn)場PID測試儀(PIDcheck)

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱束蘊儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/4/2 17:41:21
  • 訪問次數(shù)141
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束蘊儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等國際實驗室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應商。 我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團隊,我們熱忱的信仰科學,相信科學技術能為我們的客戶帶來高品質的生活,為社會的進步起到積極的促進作用。 束蘊儀器為各類客戶提供優(yōu)質的實驗室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設備,專業(yè)的應用支持及完善的售后服務,在中國大陸的諸多領域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗機構、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個行業(yè)。 公司的宗旨:為客戶量身打造的綜合解決方案,的技術支持和現(xiàn)場服務,優(yōu)質高效的客戶培訓,快速及時的售后服務。
便攜式現(xiàn)場PID(電位誘發(fā)衰減)測試儀,適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件,無需拆裝,測試時間在8小時之內(nèi)(測量時間將少于8小時)。PIDcheck是與德國Fraunhofer CSP Halle合作開發(fā)的。
便攜式現(xiàn)場PID測試儀(PIDcheck) 產(chǎn)品信息

PIDcheck的好處和特點

 

安裝后或采購光伏電站前的質量檢查

PIDcheck是能夠發(fā)現(xiàn)已安裝的光伏組件是否對PID敏感的工具。

 

功率和產(chǎn)量預測

如果PID已經(jīng)發(fā)生,只有PIDcheck的測量結果可以提供未來產(chǎn)量的預測。

 

評估針對PID的對策

PIDcheck設備能夠模擬恢復設備(偏移箱、浮動控制器)的應用,因此有助于在其安裝前評估恢復效果。

用于現(xiàn)場PID恢復的可逆高壓極性

 


可測量的參數(shù)


分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度和溫度

易于使用的便攜式設備

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●   原型:24個電池,在高壓下正向暗I-V曲線的測量

●   新功能:高壓可雙向施加應力和恢復 在活動模塊中成功演示

●   Fraunhofer CSP 于2015年*提交認證

●   2018年上市

●   用戶:評估員、操作員、服務專家、安裝人員、模塊制作人









* Patent pending ?Verfahren und Anordnung zur Prüfung eines Solarmoduls auf Anf?lligkeit für Potentialinduzierte Degradation”, DE 10 2015 213 047 A1


參考文獻: cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.



關鍵詞:電池
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